非金屬涂層測(cè)厚儀 美國(guó)DeFelsko公司 經(jīng)濟(jì)實(shí)用,方便快捷,可無(wú)損測(cè)量多種涂層的厚度，包括木材、塑料、混凝土、陶瓷、玻璃等的表面涂層。型號(hào)有：PosiTector200 B/S B/A C/S C/A D/S D/A PosiTector200 超聲波涂層測(cè)厚儀 具有一機(jī)多用功能：主機(jī)增加不同探頭即可擁有超聲波測(cè)厚儀；露點(diǎn)儀；粗糙度儀；超聲波涂層測(cè)厚儀；涂鍍層測(cè)厚儀
免費(fèi)咨詢(xún)：86-021-56712078
| 品牌 | DeFelsko/美國(guó)狄夫斯高 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 地礦,建材,交通 |
PosiTector 200非金屬涂層測(cè)厚儀 美國(guó)DeFelsko公司
簡(jiǎn)單介紹
PosiTector 200非金屬涂層測(cè)厚儀 美國(guó)DeFelsko公司經(jīng)濟(jì)實(shí)用,方便快捷,可無(wú)損測(cè)量多種涂層的厚度，包括木材、塑料、混凝土、陶瓷、玻璃等的表面涂層。
儀器特點(diǎn)
簡(jiǎn)便
- 直接測(cè)量，無(wú)需校準(zhǔn)即可滿(mǎn)足大部分應(yīng)用
- 增強(qiáng)型單手菜單操作，包括中文界面
- 燈光提示 --便于在嘈雜的環(huán)境中確定已獲得測(cè)量結(jié)果
- 重置功能可迅速將儀器還原到出廠(chǎng)狀態(tài)
耐用
- 防酸、防油、防水、防溶劑、防塵，符合或超過(guò) IP5X標(biāo)準(zhǔn)
- 防撞擊橡膠保護(hù)套
精--確
- 高精度快速反應(yīng)探頭
- 每臺(tái)儀器都有可追溯NIST或PTB標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)證書(shū)
- 符合ISO 2808和ASTM D6132 標(biāo)準(zhǔn)的無(wú)損測(cè)量
通用
- 可以和DeFelsko公司的涂層測(cè)厚儀、露點(diǎn)儀、粗糙度儀、鹽分測(cè)量?jī)x、邵氏硬度計(jì)、巴氏硬度計(jì)共用主機(jī)
- 高對(duì)比度可逆彩色顯示屏，帶背光
- 多種菜單語(yǔ)言可選，包括中文
- 倒轉(zhuǎn)顯示
- 使用堿性電池，可選擇充電電池
高效
- 連續(xù)顯示包括平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、大/小值和測(cè)量次數(shù)
- 截屏功能，可將屏幕顯示存成圖片格式
- 通過(guò)USB數(shù)據(jù)線(xiàn)方便的連接到計(jì)算機(jī)，并且給主機(jī)供電
- 可通過(guò)計(jì)算機(jī)下載和瀏覽主機(jī)的數(shù)據(jù)
- 內(nèi)置時(shí)鐘，可標(biāo)注每個(gè)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的時(shí)間
- 可通過(guò)計(jì)算機(jī)升級(jí)主機(jī)的程序
技術(shù)參數(shù) |
型號(hào) | 200B/S | 200B/A | 200C/S | 200C/A | 200D/S | 200D/A |
訂貨號(hào) | 200B1 | 200B3 | 200C1 | 200C3 | 200D1 | 200D3 |
主機(jī)型號(hào) | 標(biāo)準(zhǔn)型 | 型 | 標(biāo)準(zhǔn)型 | 型 | 標(biāo)準(zhǔn)型 | 型 |
探頭型號(hào) | 200B | 200C | 200D | |||
測(cè)量范圍 | 13～1000μm | 50～3800μm | 50～7600μm | |||
精度 | ±(2μm+3%的讀數(shù)) | ±(2μm+3%的讀數(shù)) | ±(20μm+3%的讀數(shù)) | |||
測(cè)量總厚度 | √ | √ | √ | √ | √ | √ |
測(cè)量分層厚度 |
| √ |
| √ |
| √ |
分層小厚度 |
| 13μm |
| 50μm |
| 500μm |
圖形顯示 | - | √ | - | √ | - | √ |
典型應(yīng)用 | 木材、塑料等上的涂層 | 混凝土、玻璃纖維上的涂層 | 厚的涂層，例如聚脲、瀝 | |||
注
1型-標(biāo)準(zhǔn)型主機(jī)(Standard) | - 具有上述所列的所有優(yōu)點(diǎn) |
3型-型主機(jī)(Advanced) | - 測(cè)量總涂層厚度，并且可測(cè)量多3層的分層厚度，帶A掃描波形 |
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